選擇清潔度檢測(cè)儀系統(tǒng)時(shí),需綜合考慮檢測(cè)需求、技術(shù)參數(shù)、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)及實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)
無(wú)錫和瑞澤科技有限公司是一家專業(yè)從事電子測(cè)試儀器的開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)、銷售,維修服務(wù)為一體的公司
1. 明確檢測(cè)需求
2. 核心性能參數(shù)
分辨率與精度:
檢測(cè)技術(shù):
光學(xué)顯微鏡:適合大顆粒(>5μm),成本低但效率低。
自動(dòng)顆粒計(jì)數(shù)器(激光/顯微鏡成像):高效統(tǒng)計(jì)顆粒數(shù)量和尺寸分布。
稱重法:通過(guò)濾膜重量差計(jì)算污染物總量(粗放但簡(jiǎn)單)。
光譜/色譜技術(shù):用于化學(xué)殘留(如FTIR、HPLC)或表面污染物(XRF)。
電化學(xué)法:檢測(cè)離子污染(如PCB清潔度)。
系統(tǒng)兼容性與擴(kuò)展性
樣品處理能力:支持不同尺寸/形狀的樣品(如大型工件需定制夾具)。
數(shù)據(jù)接口:輸出格式(Excel、PDF)是否兼容企業(yè)MES/QC系統(tǒng)?支持定制報(bào)告模板嗎?
升級(jí)能力:是否可擴(kuò)展檢測(cè)模塊(如從顆粒檢測(cè)升級(jí)到化學(xué)分析)?
行業(yè)適配性
汽車/航空航天:需符合ISO 16232/VDA 19.1,側(cè)重金屬顆粒和油污。
電子制造:關(guān)注離子污染(IPC-570標(biāo)準(zhǔn))和微小顆粒(<1μm)。
醫(yī)療設(shè)備:需生物相容性檢測(cè)(如微生物殘留)。
半導(dǎo)體:要求超凈環(huán)境檢測(cè)(納米級(jí)顆粒,SEM/SP-DLS技術(shù))
無(wú)錫和瑞澤科技——清潔度檢測(cè)專家
深耕工業(yè)清潔度檢測(cè)領(lǐng)域,自主研發(fā)顆粒分析儀、化學(xué)殘留檢測(cè)系統(tǒng)及自動(dòng)化在線監(jiān)測(cè)設(shè)備,覆蓋從微米級(jí)顆粒到納米級(jí)污染的全面檢測(cè)需求。依托光譜分析、激光成像等核心技術(shù),為航空航天、精密制造等領(lǐng)域提供符合ISO 16232、IPC-570等標(biāo)準(zhǔn)的定制化方案,賦能智能制造升級(jí)